SRM 2074 正弦粗糙度試樣標(biāo)準(zhǔn)品(NIST) 是一種正弦輪廓粗糙度樣品，經(jīng)過平均粗糙度 Ra 和表面空間波長 D 認(rèn)證。SRM 旨在用作校準(zhǔn)用于測量表面粗糙度的觸針儀器的標(biāo)準(zhǔn)。 SRM 2074 是標(biāo)稱努普硬度 (HK) 500 的鋼塊，已通過化學(xué)鍍鎳工藝進行了涂層。在數(shù)控車床上使用單點金剛石工具在端面操作中將正弦粗糙度輪廓加工到試樣的頂面上。

該樣品的認(rèn)證 Ra 和 D 值及其相關(guān)的擴展不確定度為：

 平均粗糙度 (Ra)              µm 樣品±0.013 （個人認(rèn)證）

 表面波長 (D), µm                             39.998 + 0.048

                                                                     – 0.013

此 SRM 最初于 1992 年 5 月校準(zhǔn)和認(rèn)證，當(dāng)時 NIST 不確定性政策使用 k = 3 的覆蓋因子來報告 NIST 測量不確定性，并于 2009 年 11 月 24 日重新認(rèn)證。從 1993 年到 2008 年，此校準(zhǔn)結(jié)果一直持續(xù)通過對 NIST 檢查標(biāo)準(zhǔn) SRM 2073-1104 進行 89 次常規(guī)測量來監(jiān)測。 NIST 檢查標(biāo)準(zhǔn) SRM 2073-1104 是一種正弦輪廓粗糙度試樣，標(biāo)稱值為 Ra = 3 µm 和 D = 100 µm，它由與 SRM 2074 正弦曲線相同的材料和相同的制造工藝制成輪廓粗糙度試樣。具有動態(tài)和固定控制限值的動態(tài)控制圖 [1] 用于監(jiān)測 SRM 樣品的認(rèn)證 Ra 值的長期變化。檢查測量結(jié)果表明在不確定范圍內(nèi)具有很高的測量再現(xiàn)性，并且沒有顯示任何顯著的變化或漂移。

處理、儲存和使用說明

儲存： SRM 2074 正弦粗糙度試樣標(biāo)準(zhǔn)品(NIST) 應(yīng)存放在其原始木箱中，在 10 ?C 和 30 ?C 之間的清潔干燥環(huán)境中。

處理和使用：請注意，包含在 D 結(jié)果中的每個測量值都是至少 100 個空間周期的平均值。因此，用戶在使用空間波長 D 執(zhí)行的任何校準(zhǔn)中都應(yīng)包括至少 100 個周期。對于認(rèn)證測量，測針力約為 4 × 10–4 N。該力對硬質(zhì)金屬表面造成的損壞可以忽略不計；但是，表面上可能會看到微弱的手寫筆痕跡。反復(fù)使用觸針儀器會慢慢降低粗糙度樣品；但是，如果這些測量是在干凈、未損壞的區(qū)域進行的，則預(yù)計樣品將保持其校準(zhǔn)值。